Всё для Учёбы — студенческий файлообменник
1 монета
doc

Студенческий документ № 040890 из МГВМИ

Вопросы по дисциплине Рентгенография и электронная микроскопия

1. Условия получения рентгеновских лучей и их природа.

2. Процесс образования рентгеновских лучей в рентгеновских трубках.

3. Спектральный состав рентгеновских лучей.

4. Условия возникновения излучения со сплошным спектром.

5. Характеристический спектр рентгеновских лучей, его условия возникновения и особенности.

6. Отражение и преломление рентгеновских лучей.

7. Ионизирующее действие, пропорциональные и сцинтилляционные счетчики.

8. Явления, сопровождающие прохождение рентгеновских лучей сквозь вещество.

9. Когерентное рассеяние рентгеновских лучей, некогерентное (Комптоновское) рассеяние рентгеновских лучей.

10. Фотоэлектрический эффект. Оже-эффект.

11. Основной закон поглощения рентгеновских лучей.

12. Явление скачка при поглощении. Селективно-поглощающие фильтры.

13. Опыты Лауэ по дифракции рентгеновских лучей. Условия Лауэ.

14. Закон Вульфа-Бреггов, описывающий дифракцию рентгеновских лучей на кристаллах. Три замечания к уравнению Вульфа-Бреггов.

15. Атомный и структурный факторы рассеяния рентгеновских лучей на кристаллах.

16. Понятие об обратном пространстве. Связь прямого и обратного пространства.

17. Дифракция в терминах обратной решетки.

18. Метод неподвижного монокристалла Лауэ.

19. Метод вращающегося монокристалла. Метод порошков Дебая-Шеррера.

20. Определение типа и размера элементарной ячейки. Фазовый анализ.

21. Определение типов твердых растворов и границы растворимости.

22. Анализ текстур прокатки и волочения. Определение внутренних макро- и микронапряжений.

23. Определение степени тетрагональности мартенсита.

24. Методы рентгеноспектрального анализа: эмиссионный, флюоресцентный.

25. Кристаллы-анализаторы. Изогнутые кристаллы-анализаторы. Волновой и дисперсионный спектрометры.

26. Применение рентгеноспектрального анализа в металловедении.

27. Рассеяние электронов: упругое и неупругое. Длина волны электрона. Атомный и структурный фактор рассеяния.

28. Принцип действия и электроннооптическая система электронографа и просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ)

29. Диффузионное рассеяние, формирование теневого контраста. Дифракционный контраст.

30. Методы приготовления объектов для исследования в ПЭМ: методы приготовления фольг и реплик.

31. Основные виды сигналов, образующиеся при бомбардировке электронным пучком. Принцип действия РЭМ.

32. Механизмы вторичной фотоэлектронной эмиссии и Оже-эффекты. Назначение методов ОЭС и РФЭС.

33. Атомно-силовая и туннельная микроскопия. Сущность методов.

Показать полностью… https://vk.com/doc-27804135_141183440
29 Кб, 18 декабря 2012 в 20:10 - Россия, Москва, МГВМИ, 2012 г., doc
Рекомендуемые документы в приложении